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檢測二極管好壞的簡易方法


  (包括檢(jian)波二極管(guan)(guan)、整流二極管(guan)(guan)、阻(zu)(zu)尼二極管(guan)(guan)、開關二極管(guan)(guan)、續流二極管(guan)(guan))是由一個(ge)PN結構成(cheng)的半(ban)導(dao)體器件,具有單向導(dao)電特性。通過用(yong)萬用(yong)表檢(jian)測其正(zheng)、反(fan)向電阻(zu)(zu)值,可以判(pan)別出二極管(guan)(guan)的電極,還可估測出二極管(guan)(guan)是否(fou)損壞。

  1.極(ji)(ji)(ji)性的判別 將萬用表(biao)置于R×100檔(dang)或(huo)R×1k檔(dang),兩表(biao)筆(bi)(bi)分別接二(er)極(ji)(ji)(ji)管的兩個(ge)電極(ji)(ji)(ji),測(ce)出一(yi)個(ge)結果后,對調兩表(biao)筆(bi)(bi),再測(ce)出一(yi)個(ge)結果。兩次測(ce)量(liang)(liang)的結果中,有一(yi)次測(ce)量(liang)(liang)出的阻值(zhi)(zhi)較(jiao)大(da)(為(wei)反向(xiang)電阻),一(yi)次測(ce)量(liang)(liang)出的阻值(zhi)(zhi)較(jiao)小(xiao)(xiao)(為(wei)正向(xiang)電阻)。在阻值(zhi)(zhi)較(jiao)小(xiao)(xiao)的一(yi)次測(ce)量(liang)(liang)中,黑(hei)表(biao)筆(bi)(bi)接的是二(er)極(ji)(ji)(ji)管的正極(ji)(ji)(ji),紅表(biao)筆(bi)(bi)接的是二(er)極(ji)(ji)(ji)管的負(fu)極(ji)(ji)(ji)。

  2.單(dan)負導(dao)電(dian)(dian)(dian)性能的(de)(de)(de)檢(jian)測及好壞的(de)(de)(de)判斷 通常,鍺材料二(er)(er)極(ji)管(guan)的(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)(zheng)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)(wei)1kΩ左右,反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)(wei)300左右。硅材料二(er)(er)極(ji)管(guan)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)(wei)5 kΩ左右,反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)(wei)∞(無(wu)窮大(da))。正(zheng)(zheng)(zheng)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)越小越好,反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)越大(da)越好。正(zheng)(zheng)(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)相差(cha)越懸殊,說(shuo)(shuo)明二(er)(er)極(ji)管(guan)的(de)(de)(de)單(dan)向(xiang)(xiang)導(dao)電(dian)(dian)(dian)特性越好。若測得二(er)(er)極(ji)管(guan)的(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)均接近0或阻(zu)值(zhi)(zhi)較(jiao)小,則說(shuo)(shuo)明該(gai)二(er)(er)極(ji)管(guan)內部已(yi)擊穿短(duan)路(lu)或漏電(dian)(dian)(dian)損(sun)壞。若測得二(er)(er)極(ji)管(guan)的(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)均為(wei)(wei)無(wu)窮大(da),則說(shuo)(shuo)明該(gai)二(er)(er)極(ji)管(guan)已(yi)開路(lu)損(sun)壞。

  3.反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電壓的檢測(ce)(ce) 二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電壓(耐壓值(zhi)(zhi))可(ke)以(yi)用晶體管(guan)(guan)直流(liu)參(can)數測(ce)(ce)試表(biao)(biao)測(ce)(ce)量(liang)。其方法是(shi):測(ce)(ce)量(liang)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)時(shi),應將測(ce)(ce)試表(biao)(biao)的“NPN/PNP”選擇(ze)鍵(jian)設置為NPN狀態,再(zai)將被(bei)測(ce)(ce)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的正極(ji)(ji)(ji)接測(ce)(ce)試表(biao)(biao)的“C”插孔內,負極(ji)(ji)(ji)插入測(ce)(ce)試表(biao)(biao)的“e”插孔,然后(hou)按(an)下“V”鍵(jian),測(ce)(ce)試表(biao)(biao)即可(ke)指示出二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電壓值(zhi)(zhi)。也可(ke)用兆(zhao)歐(ou)表(biao)(biao)和萬(wan)用表(biao)(biao)來測(ce)(ce)量(liang)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電壓、測(ce)(ce)量(liang)時(shi)被(bei)測(ce)(ce)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的負極(ji)(ji)(ji)與兆(zhao)歐(ou)表(biao)(biao)的正極(ji)(ji)(ji)相接,將二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的正極(ji)(ji)(ji)與兆(zhao)歐(ou)表(biao)(biao)的負極(ji)(ji)(ji)相連,同(tong)時(shi)用萬(wan)用表(biao)(biao)(置于合適的直流(liu)電壓檔)監測(ce)(ce)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)兩(liang)端的電壓。如圖4-71所示,搖動(dong)兆(zhao)歐(ou)表(biao)(biao)手柄(bing)(應由慢逐漸(jian)加快(kuai)),待(dai)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)兩(liang)端電壓穩定(ding)而不(bu)再(zai)上升時(shi),此電壓值(zhi)(zhi)即是(shi)二(er)(er)(er)極(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的反向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電壓。


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